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(1)資管人看SPC:統計製程管制是什麼?

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資管系畢業的PG,第一次接觸SPC時比較陌生,Google查發現它跟工業工程相關科系或統計學系有關,其中一門課程名稱叫「品質管制」。但好在有必修過統計學,應該熟悉母體、樣本及常態分佈圖等等這些專有名詞。

統計製程管制是什麼?
SPC,全名是Statistical Process Control(統計製程管制)
利用統計方法對製程進行監控與管理,以確保產品品質維持穩定且符合規格要求。

根據ASQ(美國品質學會)的定義,它有七大品質管制工具(7-QC Tools),包含:
1.特性要因圖(Cause-and-Effect Diagram)
2.查檢表(Check Sheet)
3.管制圖(Control Chart)
4.直方圖(Histogram)
5.柏拉圖(Pareto Chart)
6.散佈圖(Scatter Diagram)
7.分層法(Stratification)

其中管制圖(Control Chart)是最常見的 SPC 工具之一,且是客戶最需要的,就以這個主題來討論。

SPC 管制圖的運作方式
以下以某製程中的厚度量測為例,假設製程平均厚度為 100 nm。
管制圖主要由三條基準線組成:
UCL (Upper Control Limit):上管制界限
CL(Center Line):中心線,通常代表製程平均值
LCL(Lower Control Limit):下管制界限

假設中心線為 100 nm,上下管制界限為 103 nm 與 97 nm。

https://ithelp.ithome.com.tw/upload/images/20261013/20184741x35w05F2Gw.png
示意資料:第 3 筆量測值為 103.2 nm,超出上管制界限 103 nm,代表可能存在特殊原因變異,需要進一步調查。

下一篇再來看看SPC 常見的管制圖種類與情境。

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